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簡要描述：上海儀電物光粒度儀顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。
產(chǎn)品型號：WKL-702/708廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商 更新時(shí)間：2025-04-01訪 問 量：1103 相關(guān)文章
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上海儀電物光粒度儀顆粒圖像分析儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
????將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進(jìn)行分析處理，具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測量范圍寬等特點(diǎn)。
1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。
上海儀電物光粒度儀顆粒圖像分析儀
| 儀器型號 | WKL-702 | WKL-708 | |
| 測量范圍 | 0.1~3000(微米) | ||
| 總放大倍數(shù) | 8000倍 | ||
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 | ||
| 重復(fù)性 | 誤差≤±1% | ||
| 自動(dòng)分割速度 | ≤1秒 | ||
| 數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬像素 | ||
| 數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 電腦需另配(i5+8G內(nèi)存+純固態(tài)硬盤或雙硬盤以上配置) | 一體機(jī)(128G固態(tài)硬盤，15寸顯示器) | |
| 通信接口 | USB | USB/網(wǎng)線/無線網(wǎng) | |
| 操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10/11系統(tǒng)均可 | 自帶 | |
| 電源 | AC220V±10%, 50Hz ,200W | ||
| 儀器尺寸 | 270mm×410mm×440mm | 625mm×420mm×435mm | |
| 儀器凈重 | 15kg | 25kg | |
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